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自立式6吋快速退火爐(RTP-3-06系列)

RTP-3-06系列自立式6吋快速退火爐采用紅外輻射加熱技術，可實現(xiàn)大尺寸樣品(6英寸)快速升溫和降溫，可用于快速熱處理(RTP)、快速熱退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等半導體工藝。

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桌面式4吋快速退火爐(RTP-3-04系列)

快速退火爐RTP-3-04系列采用紅外輻射加熱技術，可實現(xiàn)大尺寸樣品（4英寸樣品）快速升溫和降溫，同時搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達到極佳的溫場均勻性，對材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)工作起到重要作用。

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桌面式1吋快速退火爐(RTP-3-01系列)

快速退火爐RTP-3-01系列采用紅外輻射加熱技術，可實現(xiàn)1吋(選配2吋)樣品快速升溫和降溫，同時搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達到極佳的溫場均勻性，對材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氮化(RTN)、快速熱氧化(RTO)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)起到重要作用。

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自立式8吋快速退火爐(RTP-3-08系列)

RTP-3-08系列自立式8吋快速退火爐采用紅外輻射加熱技術，可實現(xiàn)大尺寸樣品(8英寸)快速升溫和降溫，可用于快速熱處理(RTP)、快速熱退火(RTA)、快速熱氧化(RTO)、快速熱氮化(RTN)及金屬合金化等半導體工藝。

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液氮低溫恒溫器(LNT-3）

LNT-3系列液氮低溫恒溫器，是利用穩(wěn)態(tài)氣泡原理使樣品處于恒定或按照所需方式變化的低溫環(huán)境中，并能對樣品進行一種或多種物理性能測量的低溫恒溫裝置。

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手動探針臺LNP-3RT

探針臺LNP-3RT為微米級小尺寸樣品電特性測試提供高精度、高接觸可靠性的可控測量環(huán)境。設備通過CMA中國計量認證。

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冷熱臺（LND-3M）

冷熱臺（LND-3M）系列，可實現(xiàn)連續(xù)變溫及逐點控溫，控溫精度±0.1℃；通過控制熱源（電阻加熱器）和冷源（液氮）來維持樣品所要求溫度的一種裝置，其采用PID調(diào)節(jié)與模糊控制相結(jié)合的方式進行溫度控制，能有效實現(xiàn)大溫區(qū)連續(xù)控制，按照既定程序升溫及保溫等。

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光模塊變溫測試臺LND-OM

光模塊變溫測試臺支持工業(yè)級低溫、常溫、高溫溫控，滿足 SFP 、QSFP 、QSFP-DD 封裝模塊使用，可擴展多類封裝模塊。廣泛應用于光模塊、光器件及其組件、小型和微型化封裝的電子產(chǎn)品，在研發(fā)、生產(chǎn)各個環(huán)節(jié)的高低溫測試中。

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變溫變磁霍爾效應測試儀HET-3TM

變溫變磁霍爾效應測試系統(tǒng)HET-3TM支持標準法和范德堡法兩種測量方法。其中標準法通過測量特定方向電壓差計算參數(shù)；范德堡法測量材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等電運輸性能參數(shù)，該方法可對薄膜或薄層材料進行測量

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科教一體霍爾效應測試儀

教學儀器的價格，科研設備的體驗：科教一體霍爾效應測試儀HET-3L是依據(jù)范德堡法測量材料的電運輸性能參數(shù)：載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，更全面地評估材料的電性能，為電子器件和電路設計提供重要參考。

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薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)(MRS-3)

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3專門針對薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。

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熱電參數(shù)測試系統(tǒng)(Namicro-3)

熱電參數(shù)測試系統(tǒng)Namicro-3采用動態(tài)法(具有專利技術-專利號：ZL201811242049.2發(fā)明專利)和四線法分別測量樣品的Seebeck系數(shù)和電阻率。Namicro-3主要是用于測試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半導體及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

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薄膜熱導率測試系統(tǒng)(TCT-3RT)

薄膜熱導率測試系統(tǒng)TCT-3RT采用3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。可驗證薄膜材料在室溫條件下的熱導率性能差異。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量，可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、信息存儲與光電器件等。

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光功率熱分析儀(OPA-3)

光功率熱分析儀是世界首臺納米級薄膜材料物性分析儀，填補了國際對納米級薄膜材料無損檢測其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的技術空白！不僅可用于檢測塊體，還可檢測低至1nm的薄膜材料。根據(jù)材料相變前后光學性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性檢測材料的相變溫度，依據(jù)光干涉原理檢測透光材料的熱膨脹系數(shù)，融合了相變溫度分析儀和熱膨脹系數(shù)分析儀的兩項功能。

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熱膨脹系數(shù)分析儀(TEA-3)

熱膨脹系數(shù)分析儀采用創(chuàng)新的光干涉原理專利技術（專利號：ZL201410421128.5），可無損檢測塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數(shù)，廣泛應用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發(fā)以及質(zhì)量檢驗。

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相變溫度分析儀(PCA-3)

相變溫度分析儀采用具有專利技術的光學系統(tǒng)檢測原理，PCA不僅可以檢測多種塊體材料，還可以檢測各種薄膜樣品。可以進行多項相變理論的實驗研究，如：薄膜材料相變的尺寸效應、結(jié)晶動力學、薄膜軟化、溶化溫度等。

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教學霍爾系數(shù)測試儀(HET-3EL)

教學霍爾系數(shù)測試儀(HET-3EL)，運用范德堡法，可用于測試教學樣品的霍爾系數(shù)、載流子濃度、載流子遷移率等，可為大專院校提供專業(yè)、便捷、快速高效的教學實訓服務。

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桌面式1吋快速退火爐-RTP-3E01（教學版）

快速退火爐采用紅外輻射加熱技術，可實現(xiàn)1吋(選配2吋)樣品快速升溫和降溫，同時搭配超高精度溫度控制系統(tǒng)，可達到極佳的溫場均勻性，對材料的快速熱處理(RTP)、快速退火(RTA)、快速熱氮化(RTN)、快速熱氧化(RTO)及金屬合金化等研究和生產(chǎn)起到重要作用。

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液氮低溫恒溫器-LNT-3E(教學版）

LNT系列液氮低溫恒溫器，是利用穩(wěn)態(tài)氣泡原理使樣品處于恒定或按照所需方式變化的低溫環(huán)境中，并能對樣品進行一種或多種物理性能測量的低溫恒溫裝置。

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教學澤貝克系數(shù)測試儀(MRS-3EL)

教學澤貝克系數(shù)測試儀(MRS-3EL)，運用動態(tài)法，可用于測試教學樣品的澤貝克系數(shù)，為大專院校提供專業(yè)、便捷、快速高效的教學實訓服務。

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ABOUT US

　　武漢嘉儀通科技有限公司成立于2009年，是以薄膜物性測量儀器作為戰(zhàn)略定位，技術自主創(chuàng)新的高新技術企業(yè)。公司集研發(fā)、市場和技術服務于一體，且相繼被評為湖北省“百人計劃 ”及武漢市政府“城市合伙人 ”企業(yè)。公司成立于 2009 年，總部位于中國·光谷，專注于薄膜材料物理性能測量儀器的自主研發(fā)···

案例展示

PRODUCT CATEGORY

材料熱分析、材料樣品制備與加工、材料電磁分析、材料力學分析、材料光學分析

江蘇大學1吋快速退火爐RTP-3S01實驗

江蘇大學1吋快速退火爐RTP-3S01升溫1200℃時軟件錄屏

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4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實驗

中科院半導體研究所4吋快速退火爐RTP-3S04升溫1200℃實驗軟件錄屏

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1吋RTP-3S01快速退火爐實驗升溫曲線圖

清華大學1吋快速退火爐RTP-3S01系列升溫曲線圖

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4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實驗曲線圖

浙江大學4吋快速退火爐RTP-3S04系列升溫曲線圖 4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實···

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薄膜變溫電阻測試儀TRT-3

大連理工大學使用嘉儀通薄膜變溫電阻測試儀TRT-3測試CuNiFe樣品電阻率隨溫度變化結(jié)果 ···

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霍爾效應測試系統(tǒng)HET-3

山東大學使用嘉儀通霍爾效應測試系統(tǒng)HET-3測試鈦酸鍶樣品的電阻率、霍爾系數(shù)、載流子濃度、遷移率數(shù)據(jù)···

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薄膜熱導測試系統(tǒng)TCT-3

中科院上海微系統(tǒng)所購買嘉儀通薄膜熱導測試系統(tǒng)TCT-3，測試SiO2薄膜樣品熱導數(shù)據(jù) &n···

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薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3

中科院化學所購買嘉儀通薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3，測試導電高分子薄膜樣品Seebeck系數(shù)和電阻···

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熱電參數(shù)測試系統(tǒng)Namicro-3

太原理工購買嘉儀通熱電參數(shù)測試系統(tǒng)Namicro-3L，測試MgSi樣品Seebeck系數(shù)和電阻率數(shù)···

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相變溫度分析儀PCA-3

成都理工購買嘉儀通相變溫度分析儀PCA-3，測試HfO2薄膜的相變溫度相變溫度分析儀PC···

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他們選擇了嘉儀通

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薄膜盛會圓滿落幕！武漢嘉儀通硬核技術閃耀第十七屆全國薄膜技術研討會

2025-11-28

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嘉儀通科技2025年文章獎勵政策

2025-11-13

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熱烈歡迎！中科院半導體所何力博士蒞臨嘉儀通交流用于先進制程退火工藝

2025-09-18

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西安建筑科技大學來嘉儀通科技參觀交流和研學活動

2025-09-08

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嘉儀通亮相第七屆材料微結(jié)構與性能學術會議展示材料物性分析設備

2025-05-21

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?西安石油大學理學院蒞臨嘉儀通調(diào)研校企合作，共商人才培養(yǎng)與就業(yè)新路徑

2025-05-08

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智匯光谷、激活未來：嘉儀通科技硬核產(chǎn)品亮相化合物半導體產(chǎn)業(yè)博覽會

2025-04-26

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嘉儀通霍爾效應測試儀：助力氧化鎵單晶產(chǎn)業(yè)突破

2025-03-26

嘉儀通霍爾效應測試儀：助力氧化鎵單晶產(chǎn)業(yè)突破

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江蘇大學1吋快速退火爐RTP-3S01實驗

4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實驗

1吋RTP-3S01快速退火爐實驗升溫曲線圖

4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實驗曲線圖

薄膜變溫電阻測試儀TRT-3

霍爾效應測試系統(tǒng)HET-3

薄膜熱導測試系統(tǒng)TCT-3

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3

熱電參數(shù)測試系統(tǒng)Namicro-3

相變溫度分析儀PCA-3

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